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本标准规定了用20°角、45°角和60°角测量塑料镜面光泽的三种方法。
本标准适用于塑料镜面光泽的测量。其中20°角用于高光泽塑料，45°角主要用于低光泽塑料，60°角 主要用于中光泽塑料。对于镜面光泽的比较，仅适用于采用同一方法的同种类型的塑料。
2 引用标准
GB 2918 塑料试样状态调节和试验的标准环境
GB 3978 标准照明体及照明观测条件
3 术语
3.1 镜面光泽
在规定的入射角下，试样的镜面反射率与同一条件下基准面的镜面反射率之比。用百分数表示，可 以省略百分号，以光泽单位表示。
3.2 镜面反射率
镜面反射光通量与入射光通量之比。
4 试验仪器及对其要求
4.1 本试验使用镜面光泽仪，其工作原理见图1。
图 1 镜面光泽仪光路示意图
1—接收器；2—接收器光阑；3一视见函数修正滤光片；4—接收透镜；5—入射透镜； 6—光源光阑；7一聚光透镜；8—光源光谱修正滤光片；9—光源
4.1.1 几何条件
4.1.1.1 入射光束光轴和镜面反射光束光轴位于法线两侧的同一平面内，且与法线构成相等的角度。
4.1.1.2 接收应在镜面反射方向上。
4.1.1.3 当一块基准板放在试样位置时，光源图象应在接收器光阑的中心形成。
4.1.1.4 光源光阑与接收器光阑的几何角度及公差应符合表1规定。
表 1 (°)
|
入射角 | 光源光阑 | 接收器光阑 | ||
| 在测量面内 | 在垂直测量面内 | 在测量面内 | 在垂直测量面内 | |
| 20.0±0.1 | 0.75±0.25 | 不 大 于 3 . 0 | 1.80±0.05 | 3.6±0.1 |
| 45.0±0.1 | 1.4士0.4 | 3.0±1.0 | 8.0士0.1 | 10.0±0.2 |
| 60.0±0.1 | 0.75±0.25 | 不 大 于 3 . 0 | 4.4士0.1 | 11.7±0.2 |
4.1.1.5 在4.1.1中规定的立体角内的光束不应有光晕。
4.1.1.6 光源应符合 GB 3978中标准照明体C 或 D.5的光谱条件；接收器的光谱响应应再现标准光效 率函数V(a)。
4.1.2 精度
一光泽单位。
4.1.3 重复性
不大于一光泽单位。
4.1.4 再现性
不大于三光泽单位。
4.2 薄膜试样的固定装置
任何薄膜必须固定在能使它保持平展、没有伸长的此装置上。
4.2.1 真空板(见图2):通过橡胶管和真空泵或真空导管相联，利用阀门限制其真空度，真空度由真空 表测得。
图 2 薄膜固定用真空板
1一氧化处理平整板；2—O 型环；3—真空底座；4一真空软管接头
4.2.2 备有双面压敏胶带的平板(见图3):为确保试样拉平，在压敏胶带粘住薄膜前不应使薄膜伸长。 当压敏胶带失去粘性时，应及时更换。
图 3 备有双面压敏胶带的薄膜固定用平板
1-双面压敏胶带；2—试样；3—表面光学平整板
4.3 透明试样用的背衬
选用乌黑的底板，最好是黑腔，必须放在透明试样的背后。
4.4 标准板
4.4.1 一级工作标准板
选用高度抛光的平整黑玻璃板。对于20°角和60°角，采用折射率为1.567的黑玻璃板，光泽值规定 为100;对于45°角，采用折射率为1.540的黑玻璃板，光泽值规定为55.9。
4.4.2 二级工作标准板
选用坚硬、平整、表面均匀的陶瓷等，但必须经过符合4.1.1条之镜面光泽仪的校正。
4.4.3 标准板的使用及维护
标准板须保持清洁，不得损伤其表面。使用时，应拿其边缘，切勿触摸表面。清洗时，切忌用毛巾、硬 毛刷或纸等擦抹，应采用一般光学镜片的清洗液清洗表面。不用时，应放在密封干燥的容器内。此外，标 准板须定期检验和重新定标。
5 试样及其制备
5.1 试 样 表 面 应 光 滑 平 整 ， 无 脏 物 、 划 伤 等 缺 陷 。 试 样 应 在 不 同 部 位 裁 取 ， 其 尺 寸 为 1 0 0 mm×100mm。 试验中每组试样应不少于3个。
5.2 试样状态调节和试验环境
按 GB 2918中的常温、常湿进行。
6 试验步骤
试验中必须对镜面光泽仪进行校正。首先，对一级工作标准板定标，然后，检验二级工作标准板的镜 面光泽。如果二级工作标准板的测量读数超过其标称值一个光泽单位，那末，该镜面光泽仪必须由制造 厂调整后，方能使用。
7 漫射校正
仅在制造厂和用户协商一致情况下采用。进行此项校正时，入射光束以45°角方向照射试样，0°角方 向接收。测得的反射值乘以百分因子(表2),即为光泽校正值。
表2
| 方 法 | 百分因子 | |
| 20° | 角 | 0.013 |
| 45° | 角 | 0.055 |
| 60° | 角 | 0.021 |
8 结果的计算和表示
8.1 测量结果以一组试样的算术平均值表示，精确到0.1光泽单位。
8.2 标准偏差值S 按下式计算：
式中：X—— 每个试样测定值；
X— 一组试样测定结果的算术平均值；
n—— 测定的试样个数。
